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2600B系列 单 / 双通道系统 SMU

2或1通道, 0.1 fA 至 10 A,100 nV 至 200 V,<100 µs ,0.1% 稳定

产品问题咨询:

 

Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是标准电流-电压源和测量解决方案,适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。 另外,TSP® 技术可运行完整测试程序,适用于自动化系统应用,TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64 条通道,适用于大容量并行测试。

 

完整的生产测试,无需牺牲空间

每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特点

  •  
  • 在同一空间内可有 2 条通道
  • 较宽的电压和电流动态范围
  • 高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力
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嵌入式脚本

 

在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

 

特点

  • 消除与 PC 之间耗时的总线通信
  • 高级数据处理和流量控制
  • 通用型探头/处理程序控制

 

 

 

系统性能

TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道,支持高速、SMU-per-pin 并行测试(而不使用主机)。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。

 

特点

  • 支持 <500 ns 通道间同步
  • 可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
  • 随着测试要求变化轻松重新配置

 

 

 

 

通过TSP-Link技术,实现SMU-Per-Pin并行测试

 

TSP-Link是通道扩展总线,支持多 个2600B系列数字源表互连,成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作,支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是,2600B在无需主机成本或负担 情况下,实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统,还支持灵活性, 可以根据测试需求的变化,迅速而容易 地对系统进行重新配置。

 

2400型软件仿真

 

2600B系列数字源表,与为吉时利2400 型数字源表源测量单元(SMU)仪表开发的测试代码兼容。这使得基于2400型数字源 表的测试系统更容易地升级至2600B系列, 并使测试速度提高高达80%。此外,它还提供了从SCPI编程转到吉时利TSP技术的过渡路径,实施后,可以进一步缩短测试时间。
为了全面支持遗留的测试系统,在这个模式下,还完全支持2400型源存储清单测试序列。

 

第三代SMU设计,确保实现更快的测试时间

2600 B系列采用了串联量程调节结构,这种结构具有更快 更平滑的量程变换过程和稳定速度更快的 输出。

 

简化半导体元件测试、验证与分析

  • 内容丰富、易于访问的测试库
  • 脚本编辑器,实现现有测试的快速定制
  • 数据工具,便于迅速比较测试结果
  • 公式工具,便于分析俘获的曲线,并提供多种数据函数。

 

 

低电流性能

 

2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率,减少超低电平样本检定烦恼,确保生产成功。

 

 

特点

 

  • 在低电流范围内稳定时间快 7 倍
  • 低电流分辨率
  • 直接三芯同轴连接简化了设置

 

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